关于永磁体的表磁

永磁体磁性能的比较测量法包括表磁,磁通,磁矩及吸力。表磁是使用高斯计在磁体表面指定位置所测得的磁场强度。由于设备价格低廉、易于操作和维护,表磁成为了最常用的比较测量法。

表面高斯1

表磁的影响因素

作为非均匀磁场,磁体表面的不同位置表磁值也不同。非多极充磁、具有常规形状的磁体通常使用其磁化面几何中心表磁值作为验收标准。磁化面几何中心表磁值可以根据Biot-Savart定律进行近似计算:

圆形磁体表磁计算公式

表面高斯圆柱形状

表面高斯2。

其中 X 是测试点和磁体表面之间的气隙。

方形磁体表磁计算公式

表面高斯块形状

表面高斯3。

其中 X 是测试点和磁体表面之间的气隙。

圆环磁体表磁计算公式

表面高斯环形状

表面高斯4。

其中 X 是测试点和磁体表面之间的气隙。

通过以上计算公式可以得出:表磁值直接受磁体牌号、尺寸及测试点位置影响。

高斯计由霍尔探头和仪表模块构成。表磁值会随着气隙的增加而降低,因此,霍尔元件的封装以及被忽略的气隙对表磁测试准确性有着至关重要的影响。也就是说,使用不同的高斯计或探头测试同一磁体的同一位置,表磁值也很可能不同。但实际上,即便测试点位于几何中心,表磁测量的重复性仍旧很低。 所以必须说明的是:与磁通及磁矩相比,表磁值并不能说明磁体整体的磁性能。

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